《材料分析測試方法》碩士生入學(xué)復(fù)試大綱

　　第一部分 概述

　　1. 課程性質(zhì)

　　本課程是針對材料類專業(yè)本科生而開設(shè)專業(yè)基礎(chǔ)課。目的是使學(xué)生掌握材料主要分析技術(shù)方法的基本原理和應(yīng)用，了解較先進(jìn)的材料分析方法和應(yīng)用，培養(yǎng)學(xué)生的材料微觀組織結(jié)構(gòu)分析測試及研究的能力。

　　2. 考試范圍

　　X-射線分析、電子顯微分析及紅外光譜

　　3. 參考書

　　《材料近代分析測試方法》 常鐵軍等主編 哈爾濱工程大學(xué)出版社2005

　　《現(xiàn)代分析測試技術(shù)》 祁景玉主編 同濟(jì)大學(xué)出版社2006

　　《材料研究方法》 王培銘等主編 科學(xué)出版社，2005

　　第二部分 考試要點

　　1、緒論 課程性質(zhì)

　　2、X射線物理學(xué)基礎(chǔ)

　　掌握X射線的本質(zhì)、連續(xù)X射線譜，特征X射線譜、X射線與物質(zhì)相互作用、經(jīng)典散射與經(jīng)典散射強(qiáng)度;二次特征輻射;X射線的衰減。

　　3、X射線衍射的幾何原理

　　掌握布拉格定律、倒易點陣的定義，了解倒易點陣的某些關(guān)系式，倒易點陣的性質(zhì)倒易空間中表示衍射條件的矢量方程，掌握埃瓦爾德圖解。

　　4、X射線衍射束的強(qiáng)度

　　理解一個電子對X射線的散射、一個原子對X射線的散射、單胞對X射線的散射;掌握結(jié)構(gòu)因子計算;理解一個小晶體對X射線的散射;一個小晶體衍射的積分強(qiáng)度;粉末多晶體衍射的積分強(qiáng)度。

　　5、X射線衍射方法

　　了解類型和發(fā)展;粉末照相法;粉末法成象原理，德拜-謝樂法;勞厄?qū)嶒灧椒ǎ簞诙蚍ǔ上笤�理和衍射斑點分布規(guī)律;勞厄衍射花樣指數(shù)化;掌握多晶衍射儀法;了解測角器，探測器，計數(shù)電路，實驗條件選擇及試樣制備。

　　6、多晶體的物相分析

　　掌握基本原理，了解PDF卡片，PDF卡片索引，掌握物相的定性和定量分析原理和方法。

　　7、點陣常數(shù)的精確測定

　　掌握立方晶體衍射花樣的指標(biāo)化;理解點陣常數(shù)測量中誤差的來源;照相法中θ測量誤差的來源，衍射儀法中的測量誤差;掌握點陣常數(shù)精確測定的方法

　　8、X射線應(yīng)力測定

　　理解X射線應(yīng)力測定的基本原理;掌握X射線應(yīng)力測定方法。

　　9、電子光學(xué)基礎(chǔ)

　　理解電子光學(xué)的原理。

　　10、電子與物質(zhì)的交互作用

　　理解原子核對電子的彈性散射，原子核對電子的非彈性散射，核外電子對入射電子的非彈性散射;高能電子與樣品物質(zhì)交互作用產(chǎn)生的電子信息。二次電子(SE)，背散射電子(BE)，吸收電子(AE)，特征X射線及俄歇電子，自由載流子形成所伴生效應(yīng)，入射電子和晶體中電子云相互作用，入射電子和晶格相互作用，周期脈沖電子入射的電聲效應(yīng)，透射電子(TE)。

　　11、透射電子顯微分析

　　了解透射電鏡的結(jié)構(gòu)、成象原理;樣品制備方法，掌握電子衍射和電子衍射花樣的標(biāo)定;了解電子像襯度分類，薄晶體樣品的衍襯成象、相位襯度原理成，透射電鏡薄膜電子成像的基本方法。

　　12、掃描電子顯微分析

　　理解掃描電鏡工作基本原理，掃描電鏡的結(jié)構(gòu)，掃描電鏡的主要性能，樣品制備;掃描電鏡在材料研究中的應(yīng)用;掌握表面形貌襯度及其應(yīng)用。

　　13、光譜分析

　　掌握紫外-可見、拉曼、紅外光譜儀的分析原理，儀器結(jié)構(gòu)，基本的實驗方法，以及在材料科學(xué)與工程的應(yīng)用。一般了解原子光譜的基本原理及應(yīng)用。

　　14、熱分析

　　熱分析技術(shù)分類，TG/DTA/DSC實驗原理，儀器結(jié)構(gòu)，基本實驗方法，了解在材料科學(xué)中的應(yīng)用

　　15、其他測試方法

　　一般了解激光粒度分析方法、沉降天平分析、孔徑分析、色譜分析、電化學(xué)分析測試方法。